晶圆划裂解决规划重要合用于晶圆裂片机加工后,用于检测Disco环上芯粒的漏划、离焦、未划开、双晶等较显著的划裂缺点,通过视觉缺点检测,检出有无蕴含以上缺点即可,即分辨出良品和不良品,削减人为,提升检测效能。



自主知识产权高精度高速光学成像系统,确保优质的成像成效;
自有知识产权的缺点检测主题算法+AI深度进建复判算法,处于业界当先水平。

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